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    DXL-C1018

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    DXL-C1018

    • 所屬分類:智能型檢測儀

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    • 發布日期:2021/08/26
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    詳細介紹

    設備信息

    用于晶片端面四方向晶片原子面角度測量;及對晶片柱面notch反向晶片原子面角度測量,雙工作臺獨立操作,具有自動尋峰,自動計算差值,歷史報警查詢與標準晶向角度保存等功能。  設備精度為±30”,Z小讀數1”           

    適用晶體

    硅、藍寶石、壓電晶體、碳化硅、砷化鎵、磷化銦等III-V族化合物              


    c10.jpg

                                            

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